Coloquio de Física - Del principio de Vernier al procesamiento de imágenes con una resolución subpíxel: teoría y aplicaciones

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Ponente: Patrick Sandoz (Centre National de la Recherche Scientifique, Université de Franche-Comté) El principio de Vernier (P. Vernier, 1580-1637) ha sido conocido gracias a instrumentos como el nonio o pie de rey. Este instrumento permite la medición visual de piezas mecánicas, con una precisión sub-milimétrica. Su principio se basa en dos escalas complementarias cuyos campos de graduación difieren uno del otro. Estas escalas se encuentran ubicadas respectivamente en las partes fijas y móviles del instrumento. La diferencia en el tamaño de paso produce un desfase progresivo entre las dos escalas de graduación. Al final, la escala principal produce una medida aproximativa (paso 1 mm; resolución 1 mm) mientras que la escala secundaria produce el complemento sub-milimétrico (paso 1-e, resolución e mm).